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浙江國(guó)檢檢測(cè)

首頁(yè) 檢測(cè)百科

分享:GH3535合金焊接坡口未熔合相控陣超聲檢測(cè)工藝定量分析

2025-06-04 09:18:37 

釷基熔鹽堆(TMSR)是第四代先進(jìn)核能的代表,具有固有安全性、防核擴(kuò)散、無(wú)水冷卻、利用釷基核燃料等優(yōu)勢(shì),成為我國(guó)核能的重要發(fā)展方向之一[1-6]。TMSR的主體結(jié)構(gòu)材料是我國(guó)自主研發(fā)的耐熔鹽腐蝕合金GH3535合金[7-8]。

GH3535合金焊縫的完整性對(duì)TMSR的安全運(yùn)行起著重要作用[9]。但GH3535合金的焊接流動(dòng)性差、熔敷金屬與母材間不容易潤(rùn)濕易產(chǎn)生坡口未熔合缺陷,且缺陷附近應(yīng)力集中嚴(yán)重、危害性大[10]。傳統(tǒng)的壓水堆核電中,對(duì)缺陷檢測(cè)主要采用射線檢測(cè)技術(shù),但作為面積型缺陷的坡口未熔合在射線束穿透方向上的厚度差小,射線檢測(cè)的缺陷檢出率低于超聲檢測(cè)的[11]。

超聲檢測(cè)是無(wú)損檢測(cè)的重要手段之一。未熔合缺陷界面兩側(cè)是合金和空隙,兩者的聲阻抗差異大,超聲波在界面處反射率高,缺陷檢出率高。相控陣超聲作為新興的超聲檢測(cè)技術(shù),與常規(guī)超聲相比具有檢測(cè)靈敏度高、缺陷定位精度好、實(shí)時(shí)可視化、檢測(cè)數(shù)據(jù)可保存等優(yōu)點(diǎn)[12]。

GH3535合金焊縫接頭為粗晶材料,存在聲學(xué)各向異性和不均勻性,超聲波傳播方向的改變和衰減會(huì)帶來(lái)缺陷錯(cuò)位和小缺陷漏檢問(wèn)題[13-14]。為提高對(duì)粗晶焊縫缺陷的檢測(cè)效果,業(yè)內(nèi)逐漸開(kāi)始采用雙面陣相控陣(DMA)探頭。DMA探頭采用一發(fā)一收的晶片排布陣列模式,產(chǎn)生菱形物理聚焦區(qū),降低探頭始波和楔塊回波的干擾信號(hào),從而減小焊縫中超聲波傳播方向的變化,減小缺陷定位誤差[15-17]

劉貴吉等[18]以刻槽模擬粗晶焊縫中的未熔合缺陷,采用DMA探頭對(duì)其進(jìn)行長(zhǎng)度和深度的檢測(cè),檢測(cè)誤差小于5%。WANG等[19]使用DMA探頭檢測(cè)粗晶焊縫中的未熔合缺陷(長(zhǎng)度為20 mm),深度偏差為2.6 mm,缺陷長(zhǎng)度偏差為5 mm。KUMAR等[20]采用DMA探頭檢測(cè)異種粗晶焊縫的未熔合缺陷(長(zhǎng)度為8~12 mm),所檢測(cè)的缺陷長(zhǎng)度與射線檢測(cè)結(jié)果接近。關(guān)于缺陷的當(dāng)量值研究,目前還少有研究涉及。相控陣超聲檢測(cè)一般采用自動(dòng)或半自動(dòng)化的掃查方式,不同的工藝參數(shù)在缺陷定量和定位時(shí)有一定的差異。因此深入量化研究不同工藝參數(shù)對(duì)缺陷定量的影響在指導(dǎo)實(shí)際應(yīng)用方面具有一定意義。

相控陣超聲檢測(cè)工藝參數(shù)中聚焦聲程和探頭前端距是非常重要的,對(duì)缺陷的定量和定位影響較大。聚焦聲程即聲束聚焦點(diǎn)離探頭的聲程。由于聲波干涉,聲束在以聚焦點(diǎn)為中心的有效聚焦區(qū)域即焦柱處產(chǎn)生聚焦,其聲場(chǎng)特性是在焦柱內(nèi)能量集中度、分辨率和靈敏度高,但焦柱外聲場(chǎng)發(fā)散嚴(yán)重[21]。實(shí)際相控陣探頭只能在近場(chǎng)區(qū)內(nèi)聚焦[22]。隨著聚焦聲程的增加,焦柱的寬度和長(zhǎng)度也隨之增大,并逐步趨向穩(wěn)定。明確相控陣探頭在工件內(nèi)的焦柱需根據(jù)探頭類型、聚焦聲程、被檢材料和缺陷的類型、方位、尺寸等綜合考慮。因此,需要合理設(shè)置聚焦聲程,既要在相控陣探頭近場(chǎng)區(qū)內(nèi)聚焦,又要使焦柱能覆蓋缺陷。若焦柱無(wú)法覆蓋缺陷,焦柱外的聲場(chǎng)發(fā)散嚴(yán)重,難以準(zhǔn)確對(duì)缺陷進(jìn)行定位和定量。

在缺陷定位上,若探頭前端遠(yuǎn)離缺陷,焦柱可能無(wú)法覆蓋缺陷,導(dǎo)致定位誤差增大。在缺陷定量上,探頭前端距改變,缺陷與焦柱的相對(duì)位置也隨之改變,缺陷處反射聲束強(qiáng)度不同,導(dǎo)致缺陷定量產(chǎn)生偏差。同時(shí),與缺陷發(fā)生相互作用的聲束越接近主聲束,其能量越強(qiáng),測(cè)量的缺陷當(dāng)量越大,與缺陷發(fā)生相互作用的聲束越靠近缺陷的法線方向,越利于探頭接收反射聲束信號(hào),測(cè)量的缺陷當(dāng)量越大。

綜上所述,文章采用DMA探頭針對(duì)GH3535合金焊縫易出現(xiàn)的坡口未熔合進(jìn)行檢測(cè)工藝分析。缺陷由人工自然焊接形成,探究探頭前端距和聚焦聲程等工藝參數(shù)對(duì)檢測(cè)信噪比、缺陷定位和定量的影響,明確缺陷的有效檢測(cè)工藝參數(shù)。

文章采用M2M GEKKO型便攜式相控陣超聲檢測(cè)儀搭配E6B2-CWZ1X型編碼器,檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)物如圖1所示。選用4M 16×2-A27型DMA探頭,其頻率為4 MHz,探頭陣元排列為16×2,探頭晶片孔徑為16 mm,陣元間隙為0.08 mm。焊縫試板厚度為22 mm,坡口未熔合缺陷的尺寸示意及實(shí)物如圖2,3所示。楔塊的具體參數(shù)如表1所示。

圖 1檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)物
圖 2坡口未熔合缺陷的尺寸示意
圖 3坡口未熔合缺陷實(shí)物
Table 1.楔塊參數(shù)

采用垂直透照的方式對(duì)焊縫試板進(jìn)行射線檢測(cè),檢測(cè)結(jié)果如圖4所示,射線底片中無(wú)缺陷顯示,可知射線檢測(cè)技術(shù)對(duì)細(xì)小的坡口未熔合缺陷的檢測(cè)靈敏度低。

圖 4坡口未熔合缺陷的射線檢測(cè)結(jié)果

對(duì)比試塊的長(zhǎng)橫孔位置及尺寸示意如圖5所示。長(zhǎng)橫孔直徑為2.5 mm,深度分別5,10,15 mm,分布于對(duì)接接頭的焊縫中心和熔合線處。為確保不同深度處的檢測(cè)靈敏度一致,選用對(duì)比試塊上位于焊縫中心處的長(zhǎng)橫孔進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。檢測(cè)工藝參數(shù)如表2所示,檢測(cè)示意如圖6所示(圖中f為聚焦聲程)。分別記錄檢測(cè)的增益、信噪比、缺陷的深度和距焊縫中心水平距離。

圖 5對(duì)比試塊的長(zhǎng)橫孔位置及尺寸示意
Table 2.聚焦法則參數(shù)
圖 6缺陷檢測(cè)示意

聚焦聲程為8 mm時(shí),不同探頭前端距下的缺陷扇掃圖譜如圖7所示,可知信噪比較高時(shí),缺陷信號(hào)易于從噪聲信號(hào)中辨別;信噪比過(guò)低時(shí),缺陷信號(hào)淹沒(méi)于結(jié)構(gòu)噪聲信號(hào)中,難以分辨,引起缺陷的漏檢。

圖 7聚焦聲程為8 mm時(shí),不同探頭前端距下的缺陷扇掃圖譜

不同聚焦聲程下,缺陷檢測(cè)的信噪比如圖8所示??芍劢孤暢滔嗤瑫r(shí),探頭越接近缺陷,超聲波的傳播聲程越短,聲束在焊縫中的擴(kuò)散、散射和衰減越少,缺陷反射信號(hào)越強(qiáng),信噪比越高。探頭前端距為6 mm時(shí),聲束出射點(diǎn)距缺陷的聲程約為16 mm,聚焦聲程為13和18 mm的焦柱最為接近缺陷,所以信噪比最高,分別是24.8 dB和23.3 dB;聚焦聲程為 23 mm的焦柱遠(yuǎn)離缺陷,信噪比較低。實(shí)際檢測(cè)過(guò)程中,還需保證聲場(chǎng)能覆蓋整個(gè)焊縫,探頭前端距為0,-6,-12 mm的聲場(chǎng)可以較好覆蓋焊縫。探頭前端距為0 mm,聚焦聲程為 8~28 mm時(shí)的信噪比為13~18 dB;探頭前端距為-6 mm,聚焦聲程為18~28 mm時(shí)的信噪比為12~15 dB,均滿足ASME標(biāo)準(zhǔn)中信噪比不小于12 dB的要求。但探頭前端距為-12 mm,聚焦聲程為13~28 mm時(shí)的信噪比不大于12 dB。

圖 8不同聚焦聲程下,缺陷檢測(cè)的信噪比

因缺陷位于坡口且深度為12.9 mm,選擇熔合線上深度為10 mm的?2.5 mm長(zhǎng)橫孔作為基準(zhǔn)靈敏度進(jìn)行缺陷當(dāng)量對(duì)比分析。在相同的工藝參數(shù)下,調(diào)整增益,分別使長(zhǎng)橫孔和缺陷的信號(hào)幅值達(dá)到80%(滿屏),長(zhǎng)橫孔和缺陷的增益差值即為缺陷當(dāng)量值,缺陷當(dāng)量值曲線如圖9所示。測(cè)量缺陷的當(dāng)量值如表3所示。

圖 9檢測(cè)缺陷的當(dāng)量值曲線
Table 3.測(cè)量缺陷的當(dāng)量值

探頭離缺陷過(guò)遠(yuǎn)時(shí),信噪比低,缺陷當(dāng)量值變化大,如探頭前端距為-12 mm,聚焦聲程為13~28 mm時(shí)的信噪比不大于12 dB,缺陷當(dāng)量值的最大值與最小值差7 dB。探頭前端距為-6 mm,聚焦聲程為13~28 mm時(shí),缺陷當(dāng)量值較大,約為?2.5 mm+1 dB~-1 dB,其中聚焦聲程為23 mm時(shí)的缺陷當(dāng)量值最大。探頭前端距為0 mm,聚焦聲程為8~28 mm時(shí),缺陷當(dāng)量值約為?2.5 mm-1 dB~-4dB,若聚焦聲程過(guò)遠(yuǎn)(如28 mm),缺陷當(dāng)量值約為?2.5 mm-4 dB。探頭前端距為6 mm,聚焦聲程為8~18 mm時(shí),缺陷當(dāng)量值約為?2.5 mm-1 dB~-2dB。

檢測(cè)缺陷的深度和水平距離定位如圖10所示。缺陷定位數(shù)據(jù)如表4所示。相同的聚焦聲程,探頭前端距不同,缺陷深度和距焊縫中心水平距離的定位偏差不同,但總體偏差在1 mm左右。探頭前端距為-12 mm時(shí),信噪比不大于12 dB,暫不進(jìn)行討論。探頭前端距分別為-6,0 mm,聚焦聲程為 13,18,23,28 mm時(shí),深度定位偏差為0.35~1.80 mm(相對(duì)偏差為2.7%~14.0%),距焊縫中心水平距離定位偏差為0.4~1.4 mm(相對(duì)偏差為8%~28%)。探頭前端距為6 mm,聚焦聲程為 8,13 mm時(shí),深度定位偏差為0.09~0.26 mm(相對(duì)偏差為0.7%~2%),距焊縫中心水平距離定位偏差約為0.1 mm(相對(duì)偏差約為2%),但聚焦聲程為18 mm時(shí)的定位偏差較大。

圖 10檢測(cè)缺陷的深度和水平距離定位
Table 4.缺陷定位數(shù)據(jù)

綜上,在探頭前端距為-6~6 mm,聚焦聲程為13~28 mm時(shí),可進(jìn)行有效檢測(cè)。探頭前端距為6 mm,聚焦聲程為13 mm時(shí)的定位效果最佳;其深度定位偏差為0.7%,距焊縫中心水平距離定位偏差為2%。

采用-6 dB法測(cè)量缺陷長(zhǎng)度,結(jié)果如圖11所示,缺陷長(zhǎng)度參數(shù)如表5所示。采用-6dB法測(cè)量缺陷長(zhǎng)度時(shí),測(cè)量的最小長(zhǎng)度即為6 dB聲束寬度,若缺陷過(guò)小,則會(huì)放大缺陷[23]。缺陷長(zhǎng)度為3 mm時(shí),測(cè)量的缺陷長(zhǎng)度為4~10 mm,對(duì)缺陷有明顯的放大。

圖 11-6 dB法的缺陷長(zhǎng)度檢測(cè)結(jié)果
Table 5.測(cè)量得到的缺陷長(zhǎng)度

總體上,隨著探頭距缺陷越遠(yuǎn),聲束在工件中傳播的聲程越長(zhǎng),聲束的擴(kuò)散越嚴(yán)重,6 dB聲束寬度越寬,測(cè)量出的缺陷長(zhǎng)度越長(zhǎng)。聚焦聲程不同,6 dB聲束寬度的空間分布不同,焦柱的位置、空間形貌和6 dB寬度不同。探頭前端距6 mm處,探頭出射點(diǎn)距缺陷的聲程約為16 mm,聚焦聲程8,13,18 mm處能量集中,聲束寬度窄,測(cè)得缺陷長(zhǎng)度為4,5,5 mm,與實(shí)際缺陷長(zhǎng)度的誤差不超過(guò)2 mm,測(cè)量準(zhǔn)確度高。探頭前端距為0 mm,探頭出射點(diǎn)距缺陷的聲程約為20 mm,聚焦聲程8,13,18 mm的聚焦點(diǎn)較為接近缺陷,測(cè)得缺陷長(zhǎng)度為5,6,5 mm,與實(shí)際缺陷長(zhǎng)度的誤差不超過(guò)3 mm;聚焦聲程23和28 mm的聚焦點(diǎn)離缺陷較遠(yuǎn),因此缺陷處的6 dB聲束寬度較寬,測(cè)得缺陷長(zhǎng)度為8 mm。探頭前端距為-6 mm,探頭出射點(diǎn)距缺陷的聲程約為25 mm,測(cè)量的缺陷長(zhǎng)度為6~7 mm。探頭前端距為-12 mm,探頭出射點(diǎn)距缺陷的聲程約為30 mm,測(cè)量的缺陷長(zhǎng)度為7~10 mm。

根據(jù)缺陷位置,探頭前端距和探頭出射點(diǎn),得不同探頭前端距下,與缺陷發(fā)生相互作用的主要聲束偏轉(zhuǎn)角度的示意,如圖12所示。隨著探頭遠(yuǎn)離缺陷,與缺陷發(fā)生相互作用的主要聲束偏轉(zhuǎn)角增大,偏轉(zhuǎn)角約為35°,49°,58°,65°。根據(jù)坡口角度,可算得聲束偏轉(zhuǎn)角為57.5°時(shí),聲束垂直于坡口。由Snell公式可知該楔塊的自然折射聲束角度為56.5°。探頭前端距為-6 mm,偏轉(zhuǎn)角為58°的聲束與缺陷發(fā)生相互作用,該聲束接近主聲束和缺陷的法線,這與前文中該參數(shù)下測(cè)量的缺陷當(dāng)量值最高(?2.5 mm+1 dB~-1 dB)相對(duì)應(yīng)。

圖 12不同探頭前端距下的缺陷檢測(cè)(聲束偏轉(zhuǎn))示意

探頭前端距為6 mm,與缺陷發(fā)生相互作用的聲束偏轉(zhuǎn)角為35°,偏離缺陷法線,但聚焦聲程為 8~18 mm,缺陷當(dāng)量值較高(?2.5 mm-1 dB),可見(jiàn)除聲束與缺陷夾角外,聚焦點(diǎn)位置、傳播聲程等因素對(duì)測(cè)量缺陷當(dāng)量值也有較大影響。

有效孔徑示意如圖13所示(F為聚焦深度)。探頭陣列有效孔徑AEFF和工件中近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度N可表示為[24-25]

式中:A為探頭激活孔徑,取16 mm;φ為偏轉(zhuǎn)角度;α為聲束入射角,取20°;h為修正系數(shù),其取值與探頭有效孔徑長(zhǎng)寬比有關(guān);a為有效孔徑長(zhǎng)度值的一半;ν為工件聲速,取5 680 m/s;ν為楔塊聲速,取2 330 m/s;λ為超聲波在工件中的波長(zhǎng),取1.42 mm;?為聲束在楔塊中的聲程。

圖 13探頭陣列有效孔徑示意

不同探頭前端距下,與缺陷發(fā)生相互作用的聲束的AEFFN圖14所示。由圖14可知,隨著探頭接近缺陷,AEFFN增大。探頭前端距為6 mm時(shí),AEFFN最大,聲束能量強(qiáng),傳播聲程短,聲束能量衰減少,且設(shè)置的聚焦聲程可有效聚焦,加強(qiáng)缺陷處的聲場(chǎng)能量。所以即便與缺陷發(fā)生相互作用的聲束偏離缺陷法線方向,檢測(cè)缺陷當(dāng)量值也較高。

圖 14不同探頭前端距下,與缺陷發(fā)生相互作用的聲束的AEFFN

對(duì)于缺陷定位,在探頭前端距為6 mm,聚焦聲程為 8~13 mm的工藝參數(shù)下,缺陷定位最為準(zhǔn)確,定位偏差不大于2%。探頭前端距為-6 mm,聚焦聲程為28 mm時(shí)的定位偏差不大于8%;但聚焦聲程為13~23 mm時(shí)的缺陷定位偏差偏大,約為14%~28%。兩種工藝參數(shù)的定量結(jié)果接近,但定位準(zhǔn)確性有一點(diǎn)差異。探頭前端距為-6 mm,與缺陷發(fā)生相互作用的聲束偏轉(zhuǎn)角度為58°,該聲束的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度約為12.6 mm,而探頭出射點(diǎn)距缺陷的距離約為25 mm,這導(dǎo)致探頭輻射聲場(chǎng)無(wú)法在缺陷附近聚焦,聲束指向性減弱;且超聲波的傳播聲程更遠(yuǎn),聲束擴(kuò)散更嚴(yán)重,聲束6 dB寬度更寬。由于缺陷的取向,聲束擴(kuò)散角內(nèi)可能某一角度更有利缺陷反射,探頭檢測(cè)到的缺陷最大回波幅值不是來(lái)自聲束中心線,而儀器默認(rèn)以聲束中心線對(duì)缺陷進(jìn)行定位,因此定位偏差更大[26]。

可見(jiàn),對(duì)于缺陷的定量和定位,與缺陷發(fā)生相互作用的聲束與缺陷夾角對(duì)缺陷定量影響更大;與缺陷發(fā)生相互作用的聲束的AEFF對(duì)缺陷定位影響更大。故檢測(cè)定位和定量要綜合考慮,確保檢測(cè)參數(shù)對(duì)定位和定量都是最為合適的。

(1) DMA探頭可以有效檢出GH3535合金焊縫中埋藏的坡口未熔合缺陷,信噪比較高,定位準(zhǔn)確性較高。

(2) 探頭前端距為-6 mm,聚焦聲程為13~28 mm時(shí),聲束可一次性覆蓋焊縫,與缺陷發(fā)生相互作用的聲束接近缺陷法線,缺陷當(dāng)量值最高,約為?2.5 mm+1 dB~-1 dB。

(3) 探頭前端距為6 mm,與缺陷發(fā)生相互作用的聲束的AEFF大,傳播聲程短,信噪比高。聚焦聲程為8,13 mm時(shí),定位準(zhǔn)確性最高,定位偏差不大于0.26 mm(相對(duì)偏差不大于2%)。

(4) 僅對(duì)焊縫內(nèi)部埋藏缺陷的定量因素進(jìn)行了檢測(cè)分析,由于探頭聲場(chǎng)焦柱隨折射偏轉(zhuǎn)角度的增大而縮小,因此,對(duì)于近表面開(kāi)口或埋藏缺陷(缺陷距離焊縫表面的深度不大于5 mm)的檢測(cè)需要匹配折射角度約為70°和物理聚焦深度較淺的楔塊重新進(jìn)行定量分析。




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