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瀏覽:- 發(fā)布日期:2025-06-03 15:33:21【

凝汽器作為核電廠常規(guī)島的重要組成部分,其安全可靠性直接影響到機(jī)組的安全穩(wěn)定運(yùn)行。而傳熱管作為凝汽器的主要換熱組件,是凝汽器最重要的部分。傳熱管材料為鈦合金,傳熱管管口與管板之間采用“脹管+密封焊”的形式連接,其結(jié)構(gòu)示意如圖1所示。 

圖  1  凝汽器管口區(qū)域結(jié)構(gòu)示意

目前,主要采用Bobbin探頭對(duì)凝汽器傳熱管進(jìn)行渦流檢測(cè),在近管口區(qū)域受脹管過渡段及管板邊緣的影響,該區(qū)域(整個(gè)管板區(qū)域+管板內(nèi)邊緣往內(nèi)部10 mm)為檢測(cè)盲區(qū)[1],在役檢查階段往往需要對(duì)近管口區(qū)域補(bǔ)充進(jìn)行目視檢測(cè)。某電廠大修期間,目視檢測(cè)發(fā)現(xiàn)接排出水側(cè)近管口區(qū)域存在大量劃傷,如圖2所示。劃傷距管口約30 mm,該位置屬于管板區(qū)域,使用Bobbin探頭進(jìn)行渦流檢測(cè)時(shí),未發(fā)現(xiàn)異常信號(hào)顯示。同時(shí),由于該劃傷位于傳熱管內(nèi)壁,且劃傷較細(xì)(長(zhǎng)度小于0.5 mm),采用傳統(tǒng)測(cè)量方法無法確定該缺陷的深度。 

圖  2  近管口區(qū)域劃傷示意

為解決該缺陷的檢出問題,并給出半定量的檢測(cè)方案,可采用的渦流檢測(cè)技術(shù)有MRPC、管陣列、表面陣列等??紤]到該缺陷屬于表面開口缺陷且位于管板區(qū)域,為盡量降低結(jié)構(gòu)信號(hào)的影響,擬采用更高頻的表面陣列渦流檢測(cè)技術(shù)實(shí)施檢測(cè)[2],并通過試驗(yàn)驗(yàn)證其檢測(cè)能力。 

陣列渦流檢測(cè)基于常規(guī)的渦流檢測(cè)技術(shù),主要通過設(shè)計(jì)合理的傳感器結(jié)構(gòu)使渦流探頭陣列化,并利用數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)完成信號(hào)的激勵(lì)、運(yùn)放、采集、調(diào)理、顯示等功能,從而實(shí)現(xiàn)快速、高效的數(shù)字化檢測(cè)。與傳統(tǒng)單探頭渦流檢測(cè)相比,陣列渦流檢測(cè)采用電子學(xué)技術(shù),對(duì)傳感器單元進(jìn)行分時(shí)切換,通過單次掃查就能達(dá)到傳統(tǒng)單探頭渦流檢測(cè)多次掃查的檢測(cè)效果。傳統(tǒng)渦流單探頭掃查與陣列渦流探頭掃查原理示意如圖3所示。 

圖  3  傳統(tǒng)渦流單探頭掃查與渦流陣列探頭掃查原理示意

表面陣列渦流檢測(cè)技術(shù)是陣列渦流技術(shù)在表面檢查中的特殊應(yīng)用,其主要特點(diǎn)是檢驗(yàn)頻率較常規(guī)陣列渦流技術(shù)的高。陣列線圈部分由多組按照一定方式排布的T/R(發(fā)射/接收)線圈組成[3]。目前的表面陣列渦流探頭多采用雙排線圈結(jié)構(gòu),其中一排線圈與另一排線圈在周向錯(cuò)開一個(gè)線圈半徑的距離,如圖4所示。 

圖  4  陣列渦流探頭結(jié)構(gòu)示意

試驗(yàn)采用ZETEC生產(chǎn)的Miz-200A型渦流檢測(cè)儀(見圖5)。選用SURFXTS0023型柔性薄片式表面陣列探頭(見圖6),其長(zhǎng)度為56 mm,線圈排列形式為2×16(列×行),中心頻率為1 MHz~4 MHz。 

圖  5  Miz-200A型渦流儀實(shí)物
圖  6  SURFXTS0023型薄片式表面陣列探頭實(shí)物

柔性表面陣列探頭結(jié)構(gòu)的局限性,導(dǎo)致其穩(wěn)定性以及與被檢工件的貼合性較差,故試驗(yàn)設(shè)計(jì)了一款輔助工裝(見圖7),以使探頭能夠較大程度地貼合被檢工件,提高檢測(cè)穩(wěn)定性及靈敏度,并在探頭表面加裝了一層保護(hù)膜,以免探頭受損。 

圖  7  輔助工裝結(jié)構(gòu)示意

使用時(shí),將探頭的長(zhǎng)軸與輔助工裝的長(zhǎng)軸對(duì)齊,同時(shí)將探頭的短軸中心線與工裝手柄端圓弧中心線對(duì)齊,并使用耐高溫耐磨的膠帶將探頭固定在工裝上。探頭和工裝的組合示意如圖8所示。 

圖  8  探頭和工裝的組合示意

參考劃傷的型式,在對(duì)比試件上設(shè)計(jì)了6個(gè)長(zhǎng)度為10 mm,深度不同的周向線性槽。對(duì)比試件人工缺陷參數(shù)如表1所示(傳熱管壁厚為0.7 mm),尺寸示意及實(shí)物如圖9所示。 

Table  1.  對(duì)比試件人工缺陷參數(shù)
編號(hào) 類型 深度/mm 傷深占壁厚的百分比/% 寬度/mm
A 周向線性槽 0.1 14.3 0.13
B 周向線性槽 0.2 28.6 0.13
C 周向線性槽 0.3 42.9 0.13
D 周向線性槽 0.4 57.1 0.13
E 周向線性槽 0.5 71.4 0.13
F 周向線性槽 0.6 85.9 0.13
圖  9  對(duì)比試件尺寸示意及實(shí)物

(1)檢測(cè)頻率 

渦流標(biāo)準(zhǔn)滲透深度δ可用公式?=1????f為頻率,μ為材料磁導(dǎo)率,σ為材料電導(dǎo)率)表示,可見檢測(cè)頻率越低,渦流能量滲透深度越大,管外側(cè)管板對(duì)缺陷信號(hào)的影響就越大。故在針對(duì)表面開口較淺的缺陷進(jìn)行檢測(cè)時(shí),為減小管外側(cè)管板的影響,并得到盡可能高的檢測(cè)靈敏度,應(yīng)提高檢測(cè)頻率。而檢測(cè)頻率越高,待檢件表面形成的噪聲信號(hào)對(duì)缺陷信號(hào)的影響就越大,從而導(dǎo)致信噪比降低。因此,為了同時(shí)兼顧高靈敏度和高信噪比,在使用不同的檢測(cè)頻率對(duì)對(duì)比試件進(jìn)行信號(hào)采集和分析后,最終將頻率設(shè)置為1 MHz。 

(2)檢測(cè)要求 

在被檢件上的掃查速度不得超過在對(duì)比試件上校準(zhǔn)時(shí)的掃查速度,信噪比大于3,數(shù)字化率應(yīng)不小于每毫米2個(gè)點(diǎn)。 

(3)掃查方式 

掃查速度不應(yīng)超過200 mm/s,施加在探頭上的壓力應(yīng)足以保持其與被檢件的接觸。掃查時(shí),將探頭伸入管內(nèi),再沿管內(nèi)拉出并進(jìn)行數(shù)據(jù)采集;周向旋轉(zhuǎn)一定角度后,再次重復(fù)之前的探頭伸入、拉出采集操作,直至覆蓋周向360°。相鄰兩次掃查時(shí)的探頭覆蓋率應(yīng)不小于50%。探頭掃查示意如圖10所示。 

圖  10  探頭掃查示意

(4)對(duì)比試件的校準(zhǔn) 

對(duì)對(duì)比試件上的人工缺陷進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,觀察各軸向通道,選取深度為0.1 mm的線性槽的最大幅值信號(hào),定義為0.5 V,相位調(diào)整至90°,并歸一化至其他軸向通道。對(duì)比試件人工缺陷的信號(hào)響應(yīng)參數(shù)如表2所示(幅值測(cè)量方式為VMx,下同),信號(hào)響應(yīng)圖譜如圖11所示。 

Table  2.  對(duì)比試件人工缺陷的信號(hào)響應(yīng)參數(shù)
編號(hào) 傷深占壁厚的百分比/% 最大幅值/V 說明
A 14.3 0.50 標(biāo)定
B 28.6 0.85
C 42.9 1.42
D 57.1 1.98
E 71.4 2.48
F 85.9 3.19
圖  11  對(duì)比試件人工缺陷信號(hào)響應(yīng)圖譜

根據(jù)對(duì)比試件上不同深度的人工缺陷信號(hào)響應(yīng)情況,繪制了幅值與傷深的關(guān)系曲線,如圖12所示。由圖12可知,隨著缺陷深度增加,信號(hào)幅值逐漸增大,且存在一定的比例關(guān)系。因此,可以通過渦流軟件對(duì)幅值和傷深進(jìn)行曲線擬合,用于后續(xù)缺陷傷深的判定,通過渦流軟件擬合后得到的幅值-傷深曲線如圖13所示。 

圖  12  信號(hào)幅值與傷深的關(guān)系曲線
圖  13  渦流軟件擬合得到的幅值-傷深曲線

(5)檢測(cè)重復(fù)性試驗(yàn) 

由于該工裝為手持式,故需要驗(yàn)證其檢測(cè)重復(fù)性。驗(yàn)證時(shí),采用上述工藝對(duì)同一缺陷(對(duì)比試件上0.1 mm深的周向線性槽)采集16次數(shù)據(jù),每次采集后的幅值響應(yīng)如表3所示。 

Table  3.  重復(fù)性試驗(yàn)的幅值響應(yīng)
次數(shù) 最大幅值 次數(shù) 最大幅值
1 0.51 9 0.52
2 0.71 10 0.51
3 0.56 11 0.62
4 0.63 12 0.54
5 0.54 13 0.55
6 0.57 14 0.56
7 0.52 15 0.52
8 0.52 16 0.53

表3可知,大部分情況下檢測(cè)重復(fù)性良好,僅有2~3次偏差較大(2,4,11次),后續(xù)檢測(cè)過程中,可通過采取多次重復(fù)采集、選取重復(fù)出現(xiàn)的幅值進(jìn)行記錄的方式,減小人為因素導(dǎo)致的結(jié)果不準(zhǔn)確性。 

為驗(yàn)證上述工藝對(duì)凝汽器近管口區(qū)域劃傷缺陷的檢測(cè)效果,設(shè)計(jì)加工了模擬試件進(jìn)行試驗(yàn)驗(yàn)證。模擬試件由管板與帶人工缺陷的傳熱管脹接而成,人工缺陷相關(guān)參數(shù)如表4所示,人工缺陷結(jié)構(gòu)示意及模擬試件實(shí)物如圖14所示。 

Table  4.  模擬試件人工缺陷相關(guān)參數(shù)
人工缺陷編號(hào) 人工缺陷類型 傷深 寬度
A-1 內(nèi)環(huán)槽 0.1 0.13
A-2 內(nèi)環(huán)槽 0.1 0.13
B-1 內(nèi)環(huán)槽 0.2 0.13
B-2 內(nèi)環(huán)槽 0.2 0.13
圖  14  人工缺陷結(jié)構(gòu)示意及模擬試件實(shí)物

對(duì)模擬試件上的人工缺陷進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和分析,并記錄人工缺陷信號(hào)響應(yīng)信息,響應(yīng)參數(shù)如表5所示,信號(hào)響應(yīng)圖譜如圖15所示。由圖15可知,所有人工缺陷均能有效檢出,同時(shí)根據(jù)圖13所示的曲線可給出缺陷深度當(dāng)量,傷深最大偏差為6.6%。 

Table  5.  對(duì)比試件信號(hào)響應(yīng)參數(shù)
人工缺陷編號(hào) 傷深百分比/% 最大幅值/V 估算傷深百分比/% 偏差/%
A-1 14.3 0.51 16 −1.7
A-2 14.3 0.58 18 −3.7
B-1 28.6 0.88 28 0.6
B-2 28.6 0.70 22 6.6
圖  15  模擬試件人工缺陷信號(hào)響應(yīng)圖譜

渦流的端部效應(yīng)會(huì)使得表面陣列探頭存在盲區(qū),其大小與檢測(cè)頻率、探頭線圈尺寸以及與端部的距離有關(guān)。由模擬試驗(yàn)可知,距離端部5 mm的0.1 mm深的線性槽能夠有效檢出,因此該表面陣列技術(shù)的盲區(qū)不大于5 mm。 

某次大修期間,挑選了一些近管口區(qū)域存在劃傷的傳熱管進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn),使用加工的工裝搭載柔性表面陣列探頭,采用文章工藝參數(shù)進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)結(jié)果如圖16所示。 

圖  16  現(xiàn)場(chǎng)部分近管口區(qū)域劃傷示意及檢測(cè)結(jié)果

根據(jù)幅值-傷深曲線可知,C1R040005幅值為0.7 V,傷深百分比為22%;C2R002012幅值為1.18 V,傷深百分比為37%。經(jīng)設(shè)備工程師評(píng)估,確定后續(xù)需對(duì)其進(jìn)行跟蹤檢測(cè)。 

(1)文章工藝至少能夠檢出凝汽器近管口區(qū)域深度為0.1 mm、寬度為0.13 mm的表面開口缺陷。 

(2)由模擬試驗(yàn)結(jié)果可知,該表面陣列技術(shù)的盲區(qū)不大于5 mm。 

(3)信號(hào)幅值與傷深存在一定的線性關(guān)系,幅值大小可以在一定程度上用于評(píng)判缺陷傷深,進(jìn)而為缺陷評(píng)估和處理提供參考依據(jù)。 

(4)探頭工裝能夠有效提高檢測(cè)穩(wěn)定性,但仍為手持式,且需多次掃查才能保證覆蓋率及準(zhǔn)確性,故檢測(cè)效率低。




文章來源——材料與測(cè)試網(wǎng)

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